自動晶粒測試分類機

 軟體基本功能介紹

圖片1 55e6a* 參數設定
* 影像設定
* 自動運行
* 停止運行
* 系統IO
* 系統登入
* 系統登出
* 歷史紀錄
* 結束程式
* 料號批號
* IC數量即時同步顯示
* 測試頭A即時影像
* 測試頭B即時影像
* 晶粒分類顯示
* 資料清除
* 手動操作功能
* 空盤彈夾更換
* 測試彈夾更換
* 軌道清盤
* 待機位置
* 原點復歸


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